@techreport{oai:ir.soken.ac.jp:00003247,
 author = {ナガヤマ, クニアキ and 永山, 國昭 and NAGAYAMA, Kuniaki},
 month = {},
 note = {研究課題名：物理を基礎とする生命科学, application/pdf, 位相差電子顕微鏡に用いる、新しい原理に基づいた位相板の開発を行なった。位相差電子顕微鏡は、生物試料のような軽い元素(C、N、0)からなる試料の無染色観察に必須の技術である。従来の電子顕微鏡用の位相板は、FIB(フォーカスイオンビーム装置)などの超微細加工技術によって加工された炭素薄膜を用いていた。これは電子線が透過する際に感じる固体炭素の内部電位を利用するものである。しかし、薄膜による電子散乱があり、その散乱分は位相差像に寄与しないので S/N 比の劣化があった。新たに開発する位相板は、ナノスケールの磁性体細線が空間中に作るべクトルボテンシャルによって電子波に位相差を付加する。これはAham"OV-Bohm(AB)効果として知られており、電子線が炭素膜のようなモノを通過しないので無損失が期待される。中心課題はナノ磁性体細線を中心に架橋した位相板作成技術の確立である。ナノ磁性体細線の作成手段として 2 つの方法を試みナニ:1)電子線ホログラフィーに使用されるパイプリズム(白金細線)を支持体として磁性薄膜をその上に作製、2)無垢の白金細線からF旧切削によりブレード状細線を作りそのブレード刃上に磁性薄膜作製。これら加工手法によって作製された位相板を電子光学的手法(コントラスト伝達関数(CTF))を用いて解析し、予想に近いAB位相板性能を得た。},
 title = {位相差電子顕微鏡におけるAharonov-Bohm効果を応用した無損失位相板の開発},
 year = {2009}
}