{"_buckets": {"deposit": "0a560d48-fa50-4be2-a2de-672244898cbe"}, "_deposit": {"created_by": 1, "id": "561", "owners": [1], "pid": {"revision_id": 0, "type": "depid", "value": "561"}, "status": "published"}, "_oai": {"id": "oai:ir.soken.ac.jp:00000561", "sets": ["14"]}, "author_link": ["8755", "8754", "8753"], "item_1_biblio_info_21": {"attribute_name": "書誌情報（ソート用）", "attribute_value_mlt": [{"bibliographicIssueDates": {"bibliographicIssueDate": "1992-03-31", "bibliographicIssueDateType": "Issued"}, "bibliographic_titles": [{}]}]}, "item_1_creator_2": {"attribute_name": "著者名", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "佐伯, 宏"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "8753", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_1_creator_3": {"attribute_name": "フリガナ", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "サエキ, ヒロシ"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "8754", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_1_date_granted_11": {"attribute_name": "学位授与年月日", "attribute_value_mlt": [{"subitem_dategranted": "1992-03-31"}]}, "item_1_degree_grantor_5": {"attribute_name": "学位授与機関", "attribute_value_mlt": [{"subitem_degreegrantor": [{"subitem_degreegrantor_name": "総合研究大学院大学"}]}]}, "item_1_degree_name_6": {"attribute_name": "学位名", "attribute_value_mlt": [{"subitem_degreename": "博士（学術）"}]}, "item_1_description_1": {"attribute_name": "ID", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "1992030", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_1_description_12": {"attribute_name": "要旨", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "　本文は､電子貯蔵リングにおいて､ビームダクト内のマイクロパーティク\u003cbr /\u003eルが電子ビームへ吸収され､ビーム寿命を急激に短縮させる現象について述べ\u003cbr /\u003eたものである｡\u003cbr /\u003e　高エネルギー物理学研究所のトリスタン電子･陽電子衝突リングの入射蓄積\u003cbr /\u003eリングARでは､電子貯蔵運転中にビーム寿命が突然短縮し､そのまま復帰し\u003cbr /\u003eない現象ならびに短時間のビーム寿命の短縮がしばしば観測され､ビームダク\u003cbr /\u003eト内に残留するマイクロパーティクルのトラップによると思われるビーム電流\u003cbr /\u003e値の微少現象がしばしば観測されている｡ こうした現象は､精密化した物理実\u003cbr /\u003e験やシンクロトロン放射光利用実験にとって大きな障害となり､世界各地の電\u003cbr /\u003e子貯蔵リングで大変な問題となっている｡ しかしながら､マイクロパーティク\u003cbr /\u003eルのトラッピング現象の本格的な観測や実験､その理論的考察などについては\u003cbr /\u003eほとんど行なわれていなかった｡ そこで､ ビーム寿命が短縮する現象は､トラッ\u003cbr /\u003eプされたマイクロパーティクルがビーム軌道周辺で運動するためと推測し､ A\u003cbr /\u003eRにおいてその機構解明を試みた｡\u003cbr /\u003e　ビームダクト内に残留するマイクロパーティクルは､光子の散乱照射による\u003cbr /\u003e光電子放出で正電荷を与えられ､電子ビームがつくる電場の吸引力によりトラ\u003cbr /\u003eップされると考えられる｡また｡トラップされたマイクロパーティクルと電子\u003cbr /\u003eビームとの衝突では､残留ガスによる制動放射に比べてはるかに多量の制動放\u003cbr /\u003e射(ガンマー線)を観測することができると期待される｡さらに､数秒間程度の時間範囲\u003cbr /\u003eでの制動放射を観測することで､ビーム軌道周辺でのマイクロパーティクルの\u003cbr /\u003e運動が推測できると考え､鉛ガラスカウンターを使用した制動放射の観測を行\u003cbr /\u003eなった｡ その結果､観測例は2例であるが､ビーム寿命が短縮し持続した状態で､\u003cbr /\u003e電子ビームのバンチ信号に対応した高エネルギーの制動放射の信号､マイクロ\u003cbr /\u003eパーティクルがビームを上下に通過したと考えられる時間幅0.1-0.2ms\u003cbr /\u003e の信号と特徴的な2連の1-2秒周期性のある信号を観測した｡ また､観測\u003cbr /\u003eされた信号の電圧は6.5GeV (ビームエネルギー)のガンマー線のそれよ\u003cbr /\u003eりはるかに高いものであった｡ さらに､観測結果からマイクロパーティクルが\u003cbr /\u003e0.05-0.2m/s の速度で電子ビームの進行方向に移動していることが\u003cbr /\u003e観測された｡\u003cbr /\u003e　一方､ARにおけるマイクロパーティクルのトラップする条件､トラップさ\u003cbr /\u003eれうる大きさとそのビーム軌道周辺での運動の解析をMarinの式を用いて\u003cbr /\u003e行なった｡ ビーム直下にマイクロパーティクルが存在し垂直上方に電気的に吸引\u003cbr /\u003eされると仮定して解析した｡ それらの電荷をQ(Coulomb)､質量をm\u003cbr /\u003e(Kg)､電子ビームにより作り出されるビームダクト底面における電場を\u003cbr /\u003eE(V/m)とした場合､ ARにおけるマイクロパーティクルのトラップする\u003cbr /\u003e条件として得られたQE/mの値は1.85×105(Newton/Kg)となっ\u003cbr /\u003eた｡パーティクルの表面に現れる電荷は光子エネルギーに依存する｡ ビーム\u003cbr /\u003eダクト内で採取されたマイクロパーティクルの多くはアルミニウム系とチタン\u003cbr /\u003e系で､吸収されうるパーティクルの大きさを試算した｡ それらの形を球形とし\u003cbr /\u003eた時の計算では､材質がアルミニウムの場合､最大粒径は約100ミクロンで､\u003cbr /\u003eチタンの場合は約70ミクロンであった｡ マイクロパーティクルのビーム軌道\u003cbr /\u003e周辺での運動を単純な垂直振動とした計算で､その運動周期は約0.7秒とな\u003cbr /\u003eり､2例の観測結果とほぼ一致した。\u003cbr /\u003e　ARにおいて､実際のビームダクトとイオンポンプ内で採取したサンプルの\u003cbr /\u003eマイクロパーティクル(サイズ50-100ミクロン)を挿入してのトラッピ\u003cbr /\u003eング実験を行なった｡ 9回の実験で4回､サンプルのいくつかが電子ビームにト\u003cbr /\u003eラップされたと考えられる短時間のビーム寿命の短縮とビームのバンチ信号に\u003cbr /\u003e対応した高エネルギーの制動放射の信号､マイクロパーティクルがビームを通\u003cbr /\u003e過したと考えられる信号を観測した｡ビーム寿命の短時間の短縮は､トラップ\u003cbr /\u003eされたマイクロパーティクルが､ビーム損失による発熱で破壊されるためと推\u003cbr /\u003e測する｡ また､ ARにおいてビーム寿命が回復しない場合は､マイクロパーテ\u003cbr /\u003eィクルが発熱により破壊されずビーム軌道周辺を運動し続ける為と考えられ\u003cbr /\u003eる｡\u003cbr /\u003e　ARにおいてビーム寿命が短縮した場合､2連の周期1-2秒の高エネルギ\u003cbr /\u003eーの制動放射を観測した｡ マイクロパーティクルのビーム軌道周辺での運動周\u003cbr /\u003e期は観測値とほぼ一致した｡ また､トラップを考慮してビーム寿命を計算した\u003cbr /\u003eところ観測値とほぼ一致した｡ 従って､ARで発生するビーム寿命が短縮し持\u003cbr /\u003e続する現象はマイクロパーティクルに起因していると結論できる｡", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_1_description_18": {"attribute_name": "フォーマット", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "application/pdf", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_1_description_7": {"attribute_name": "学位記番号", "attribute_value_mlt": [{"subitem_description": "総研大甲第30号", "subitem_description_type": "Other"}]}, "item_1_select_14": {"attribute_name": "所蔵", "attribute_value_mlt": [{"subitem_select_item": "有"}]}, "item_1_select_8": {"attribute_name": "研究科", "attribute_value_mlt": [{"subitem_select_item": "数物科学研究科"}]}, "item_1_select_9": {"attribute_name": "専攻", "attribute_value_mlt": [{"subitem_select_item": "12 加速器科学専攻"}]}, "item_1_text_10": {"attribute_name": "学位授与年度", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "1991"}]}, "item_1_text_20": {"attribute_name": "業務メモ", "attribute_value_mlt": [{"subitem_text_value": "（2018年2月9日）本籍など個人情報の記載がある旧要旨・審査要旨を個人情報のない新しいものに差し替えた。承諾書等未確認。要確認該当項目修正のこと。"}]}, "item_creator": {"attribute_name": "著者", "attribute_type": "creator", "attribute_value_mlt": [{"creatorNames": [{"creatorName": "SAEKI, Hiroshi", "creatorNameLang": "en"}], "nameIdentifiers": [{"nameIdentifier": "8755", "nameIdentifierScheme": "WEKO"}]}]}, "item_files": {"attribute_name": "ファイル情報", "attribute_type": "file", "attribute_value_mlt": [{"accessrole": "open_date", "date": [{"dateType": "Available", "dateValue": "2016-02-17"}], "displaytype": "simple", "download_preview_message": "", "file_order": 0, "filename": "甲30_要旨.pdf", "filesize": [{"value": "301.4 kB"}], "format": "application/pdf", "future_date_message": "", "is_thumbnail": false, "licensetype": "license_11", "mimetype": "application/pdf", "size": 301400.0, "url": {"label": "要旨・審査要旨 / Abstract, Screening Result", "url": "https://ir.soken.ac.jp/record/561/files/甲30_要旨.pdf"}, "version_id": "edf60f10-3521-458b-a97a-81323574589e"}, {"accessrole": "open_date", "date": [{"dateType": "Available", "dateValue": "2016-02-17"}], "displaytype": "simple", "download_preview_message": "", "file_order": 1, "filename": "甲30_本文.pdf", "filesize": [{"value": "3.7 MB"}], "format": "application/pdf", "future_date_message": "", "is_thumbnail": false, "licensetype": "license_11", "mimetype": "application/pdf", "size": 3700000.0, "url": {"label": "本文", "url": "https://ir.soken.ac.jp/record/561/files/甲30_本文.pdf"}, "version_id": "52e9f8a7-8ae8-49cd-b459-05883cdda683"}]}, "item_language": {"attribute_name": "言語", "attribute_value_mlt": [{"subitem_language": "jpn"}]}, "item_resource_type": {"attribute_name": "資源タイプ", "attribute_value_mlt": [{"resourcetype": "thesis", "resourceuri": "http://purl.org/coar/resource_type/c_46ec"}]}, "item_title": "電子貯蔵リングにおけるマイクロパーティクルのトラッピング現象の観測と解析", "item_titles": {"attribute_name": "タイトル", "attribute_value_mlt": [{"subitem_title": "電子貯蔵リングにおけるマイクロパーティクルのトラッピング現象の観測と解析"}, {"subitem_title": "Observation and analysis of microparticle trapping phenomena in an electron strage ring", "subitem_title_language": "en"}]}, "item_type_id": "1", "owner": "1", "path": ["14"], "permalink_uri": "https://ir.soken.ac.jp/records/561", "pubdate": {"attribute_name": "公開日", "attribute_value": "2010-02-22"}, "publish_date": "2010-02-22", "publish_status": "0", "recid": "561", "relation": {}, "relation_version_is_last": true, "title": ["電子貯蔵リングにおけるマイクロパーティクルのトラッピング現象の観測と解析"], "weko_shared_id": 1}